思達(dá)科技推出新款MEMS微懸臂式探針卡。思達(dá)科技

半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)供應(yīng)商 – 思達(dá)科技，宣布推出應(yīng)用在WAT（晶圓驗(yàn)收）測(cè)試的新款3D/2.5D MEMS微懸臂式探針卡系列產(chǎn)品。處女座Virgo-Prima系列呈現(xiàn)探針卡應(yīng)用、制造，以及量測(cè)的融合能力。透過(guò)優(yōu)化的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)，MEMS探針卡系列提供產(chǎn)業(yè)界客戶，最佳的晶圓級(jí)參數(shù)和可靠度測(cè)試介面解決方案。

為滿足高效能運(yùn)算（HPC）和高容量資料分析不斷成長(zhǎng)的需求，探針卡制造商持續(xù)專注在先進(jìn)探針的研發(fā)，而MEMS探針技術(shù)已被視為關(guān)鍵的競(jìng)爭(zhēng)因素。在推出3D/2.5D MEMS微懸臂式WAT探針卡之后，思達(dá)在MEMS探針卡的設(shè)計(jì)上，呈現(xiàn)更多的創(chuàng)新，以符合電性量測(cè)的測(cè)試需求，并達(dá)到更高的生產(chǎn)良率。

思達(dá)處女座Virgo-Prima系列MEMS探針卡，支援從室溫到150℃寬溫度范圍的量測(cè)，應(yīng)用涵蓋產(chǎn)業(yè)的測(cè)試要求，如HCI、NBTI、TDDB、EM，和RF射頻訊號(hào)完整性等。除了支援Keysight 4070/4080系列參數(shù)測(cè)試儀外，思達(dá)也推出了應(yīng)用在產(chǎn)業(yè)界大多數(shù)特性驗(yàn)證測(cè)試儀器，如Keysight MPPT、P9002A等的WAT MEMS探針卡。這款探針卡系列產(chǎn)品，具備可更換的測(cè)試頭，可對(duì)應(yīng)于不同的PCB設(shè)計(jì)，減少對(duì)準(zhǔn)時(shí)間且維持測(cè)試儀的可利用性。

思達(dá)科技執(zhí)行長(zhǎng)暨技術(shù)長(zhǎng)劉俊良博士表示：“隨著更多元的產(chǎn)業(yè)應(yīng)用和混合式元件變得普遍，對(duì)半導(dǎo)體制造商來(lái)說(shuō)，WAT測(cè)試是日益重要的程序。探針卡作為測(cè)試介面，不僅是高單價(jià)的消耗品，也必須確保分析結(jié)果是可信賴的。思達(dá)處女座Virgo MEMS探針卡系列產(chǎn)品，是專為市場(chǎng)趨勢(shì)而設(shè)計(jì)，是制造商未來(lái)的開(kāi)發(fā)上，最佳的探測(cè)解決方案。”